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在設(shè)備退磁控制非常好的情況下(相關(guān)的 IEC 和 GB 標準中應該加入退磁質(zhì)量的要求),采用沖擊法可以很方便的外推初始磁導率 ui,同時還可以較準確的計算材料的瑞利 常數(shù)。同樣采用掃描法測試幾組弱磁場下磁滯回線,取對應的最大磁導率,計算推出初始磁 導率 ui。這將填補軟磁材料直流磁性能測量有關(guān)初始磁導率測試的空白。 最后將 Hs 分別為 8A/m、0.8A/m 和 0.08A/m 三條磁滯回線放在一起,瑞利區(qū)很小!
隱藏域元素占位
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